emc是车规重中之重，
但对于芯片没有判别标准
在车规 mcu 芯片测试与中，陈大为重点介绍了电磁兼容(emc)，这对于整车、整机或部件的电子兼容考虑得比较多。到目前为止，iec标准体系包括：电磁发射(iec61967系列)、电磁抗扰度(iec61967系列)、脉冲抗扰度(iec62215系列)、can收发器emc评估(iec62228系列)、集成电路电磁兼容建模(iec62433系列)等，可以为国内mcu提供典型测试标准。
对于mcu，典型的6种测试方法包括：
电磁(emi)发射：tem小室法，1ω/150ω直接耦---，表面扫描法;法拉第笼法，电动执行器找，磁场探头法，电动执行器，ic带状线法;
电磁(ems)抗扰度：tem小室法，直接射频功率注入法，电动执行器哪里有，大电流注入法;法拉第笼法，ic带状线法，表面扫描法;
脉冲抗扰度：同步瞬态注入法和非同步瞬态注入法，这两者注入的脉冲波形有esd、eft和浪涌
3、基本功能验证、mcu为复杂电路、芯片中具有微程序控制任务的产品叫做复杂电路。复杂电路使用ate进行静态/动态参数测试时，其中包含了功能的矢量，因此即使基础测试通过，电动执行器，复杂电路并不能被视为ok，由于功能向量的要求---，ate不能做到这一点，存储---也不能支持复杂电路，“任何时期的ate都不能支持复杂电路的发展要求，简单ate的测试也不能判断复杂电路的完整性。”陈大为说到，“对于复杂电路一定要进行功能验证，比如说复杂电路有很多高速接口、协议完整性跟电器物理参数靠ate测试就没戏，必须要做evb(板极)测试做功能演算，或是用ate+台式仪器。”测试温度环境：- 40℃ 、 25℃ 、85℃( 105℃ 、 125℃ 、 150℃ )。
aec机构的会员有技术会员和yongjiu会员之分，技术会员通常为芯片企业而yongjiu会员则通常为车机公司。
芯片工况环境决定其温度等级，并所有aec-q100试验按此温度条件进行。陈大为介绍到，新版aec-q100zui高工作温度范围(level 0)是- 40℃～150℃，zui低范围(level 3)是- 40℃～85℃，中间还有两个级别分别是level 1 ：工作温度范围 - 40℃～125℃(一般等级)、level 2 ：工作温度范围 - 40℃～105℃。aec-q100标准当中没有别的要求，主要是温度不一样。
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